Otwarty dostęp

Selected Applications of Scale Spaces in Microscopic Image Analysis


Zacytuj

Dimiter Prodanov
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Tomasz Konopczynski
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Maciej Trojnar
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
eISSN:
1314-4081
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Computer Sciences, Information Technology