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Selected Applications of Scale Spaces in Microscopic Image Analysis

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Citez

Dimiter Prodanov
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Tomasz Konopczynski
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Maciej Trojnar
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
eISSN:
1314-4081
Langue:
Anglais
Périodicité:
4 fois par an
Sujets de la revue:
Computer Sciences, Information Technology