Acceso abierto

Selected Applications of Scale Spaces in Microscopic Image Analysis


Cite

Dimiter Prodanov
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Tomasz Konopczynski
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Maciej Trojnar
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
eISSN:
1314-4081
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Computer Sciences, Information Technology