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Selected Applications of Scale Spaces in Microscopic Image Analysis

INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO

Cita

Dimiter Prodanov
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Tomasz Konopczynski
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
Maciej Trojnar
EHS, Interuniversity Microelectronics Center (IMEC), 3001 Leuven, Belgium
eISSN:
1314-4081
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Computer Sciences, Information Technology