Skip to content
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Usługi biblioteczne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Journal Matcher
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Tom 25 (2015): Zeszyt 1 (Marzec 2015)
Otwarty dostęp
A Probabilistic Method for Certification of Analytically Redundant Systems
Bin Hu
Bin Hu
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Hu, Bin
oraz
Peter Seiler
Peter Seiler
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Seiler, Peter
25 mar 2015
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Tom 25 (2015): Zeszyt 1 (Marzec 2015)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Pobierz okładkę
Data publikacji:
25 mar 2015
Zakres stron:
103 - 116
Otrzymano:
30 sty 2014
DOI:
https://doi.org/10.1515/amcs-2015-0008
Słowa kluczowe
avionics
,
certification
,
safety-critical systems
,
reliability
,
fault detection
,
fault-tolerant systems
© by Peter Seiler
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
