Skip to content
Publier & Distribuer
Solutions d'édition
Solutions de distribution
Services de bibliothèques
Thèmes
Architecture et design
Arts
Business et économie
Chimie
Chimie industrielle
Droit
Géosciences
Histoire
Informatique
Ingénierie
Intérêt général
Linguistique et sémiotique
Littérature
Mathématiques
Musique
Médecine
Pharmacie
Philosophie
Physique
Sciences bibliothécaires et de l'information, études du livre
Sciences des matériaux
Sciences du vivant
Sciences sociales
Sport et loisirs
Théologie et religion
Études classiques et du Proche-Orient ancient
Études culturelles
Études juives
Publications
Journaux
Livres
Comptes-rendus
Éditeurs
Journal Matcher
Blog
Contact
Chercher
Français
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Panier
Home
Journaux
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 25 (2015): Edition 1 (Mars 2015)
Accès libre
A Probabilistic Method for Certification of Analytically Redundant Systems
Bin Hu
Bin Hu
Recherchez cet auteur sur
Sciendo
|
Google Scholar
Hu, Bin
et
Peter Seiler
Peter Seiler
Recherchez cet auteur sur
Sciendo
|
Google Scholar
Seiler, Peter
25 mars 2015
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 25 (2015): Edition 1 (Mars 2015)
À propos de cet article
Article précédent
Article suivant
Résumé
Références
Auteurs
Articles dans cette édition
Aperçu
PDF
Citez
Partagez
Télécharger la couverture
Publié en ligne:
25 mars 2015
Pages:
103 - 116
Reçu:
30 janv. 2014
DOI:
https://doi.org/10.1515/amcs-2015-0008
Mots clés
avionics
,
certification
,
safety-critical systems
,
reliability
,
fault detection
,
fault-tolerant systems
© by Peter Seiler
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
