Skip to content
Veröffentlichen & Verteilen
Verlagslösungen
Vertriebslösungen
Bibliotheksdienste
Themen
Allgemein
Altertumswissenschaften
Architektur und Design
Bibliotheks- und Informationswissenschaft, Buchwissenschaft
Biologie
Chemie
Geowissenschaften
Geschichte
Industrielle Chemie
Informatik
Jüdische Studien
Kulturwissenschaften
Kunst
Linguistik und Semiotik
Literaturwissenschaft
Materialwissenschaft
Mathematik
Medizin
Musik
Pharmazie
Philosophie
Physik
Rechtswissenschaften
Sozialwissenschaften
Sport und Freizeit
Technik
Theologie und Religion
Wirtschaftswissenschaften
Veröffentlichungen
Zeitschriften
Bücher
Konferenzberichte
Verlage
Journal Matcher
Blog
Kontakt
Suche
Deutsch
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Warenkorb
Home
Zeitschriften
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Band 25 (2015): Heft 1 (März 2015)
Uneingeschränkter Zugang
A Probabilistic Method for Certification of Analytically Redundant Systems
Bin Hu
Bin Hu
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Hu, Bin
und
Peter Seiler
Peter Seiler
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Seiler, Peter
25. März 2015
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Band 25 (2015): Heft 1 (März 2015)
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zusammenfassung
Referenzen
Autoren
Artikel in dieser Ausgabe
Vorschau
PDF
Zitieren
Teilen
COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht:
25. März 2015
Seitenbereich:
103 - 116
Eingereicht:
30. Jan. 2014
DOI:
https://doi.org/10.1515/amcs-2015-0008
Schlüsselwörter
avionics
,
certification
,
safety-critical systems
,
reliability
,
fault detection
,
fault-tolerant systems
© by Peter Seiler
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
