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Use of scanning area related multiple degradation profiles for AFM assessment of polystyrene/PC61BM nanocomposite surface deterioration

Andrzej Sikora

Andrzej Sikora

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Sikora, Andrzej
, 
Magdalena Moczała

Magdalena Moczała

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Moczała, Magdalena
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Bartosz Boharewicz

Bartosz Boharewicz

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Boharewicz, Bartosz
  
02 nov 2018
Use of scanning area related multiple degradation profiles for AFM assessment of polystyrene/PC61BM nanocomposite surface deterioration's Cover Image
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Pubblicato online: 02 nov 2018
Pagine: 397 - 402
Ricevuto: 27 mar 2017
Accettato: 12 giu 2018
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2018-0071
Parole chiave
© 2018 Andrzej Sikora et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Scienze materiali, Scienze materiali, altro, Nanomateriali, Materiali funzionali ed intelligenti, Caratteristica e proprietà dei materiali
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