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Use of scanning area related multiple degradation profiles for AFM assessment of polystyrene/PC61BM nanocomposite surface deterioration

Andrzej Sikora

Andrzej Sikora

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Sikora, Andrzej
, 
Magdalena Moczała

Magdalena Moczała

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Moczała, Magdalena
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Bartosz Boharewicz

Bartosz Boharewicz

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Boharewicz, Bartosz
  
02 nov 2018
Use of scanning area related multiple degradation profiles for AFM assessment of polystyrene/PC61BM nanocomposite surface deterioration's Cover Image
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Publicado en línea: 02 nov 2018
Páginas: 397 - 402
Recibido: 27 mar 2017
Aceptado: 12 jun 2018
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2018-0071
Palabras clave
© 2018 Andrzej Sikora et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Ciencia de los materiales, Ciencia de los materiales, otros, Nanomateriales, Materiales funcionales e inteligentes, Características y propiedades de los materiales
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