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Use of scanning area related multiple degradation profiles for AFM assessment of polystyrene/PC61BM nanocomposite surface deterioration

Andrzej Sikora

Andrzej Sikora

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Sikora, Andrzej
, 
Magdalena Moczała

Magdalena Moczała

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Moczała, Magdalena
 und 
Bartosz Boharewicz

Bartosz Boharewicz

Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials ScienceWrocław, Poland
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Boharewicz, Bartosz
  
02. Nov. 2018
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Online veröffentlicht: 02. Nov. 2018
Seitenbereich: 397 - 402
Eingereicht: 27. März 2017
Akzeptiert: 12. Juni 2018
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2018-0071
Schlüsselwörter
© 2018 Andrzej Sikora et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Materialwissenschaft, Materialwissenschaft, andere, Nanomaterialien, Funktionelle und Intelligente Materialien, Charakterisierung und Eigenschaften von Materialien
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