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UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films

P. Mallick

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Mallick, P.
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D.K. Mishra

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D. Kanjilal

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Kanjilal, D.
  
30 ago 2016
UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films's Cover Image
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Pubblicato online: 30 ago 2016
Pagine: 555 - 559
Ricevuto: 04 nov 2014
Accettato: 19 mag 2015
DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0082
Parole chiave
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Mallick, P.
Mishra, D.K.
Kumar, P.
Kanjilal, D.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Scienze materiali, Scienze materiali, altro, Nanomateriali, Materiali funzionali ed intelligenti, Caratteristica e proprietà dei materiali
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