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UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films

P. Mallick

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Mallick, P.
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D.K. Mishra

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Mishra, D.K.
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P. Kumar

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Kumar, P.
 et 
D. Kanjilal

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Kanjilal, D.
  
30 août 2016
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Publié en ligne: 30 août 2016
Pages: 555 - 559
Reçu: 04 nov. 2014
Accepté: 19 mai 2015
DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0082
Mots clés
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Mallick, P.
Mishra, D.K.
Kumar, P.
Kanjilal, D.
Langue:
Anglais
Périodicité:
4 fois par an
Sujets de la revue:
Sciences des matériaux, Sciences des matériaux, autres, Nanomatériaux, Matériaux fonctionnels et intelligents, Caractérisation et propriétés des matériaux
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