Acceso abierto

UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films

P. Mallick

P. Mallick

Buscar este autor en
Sciendo|Google Scholar
Mallick, P.
, 
D.K. Mishra

D.K. Mishra

Buscar este autor en
Sciendo|Google Scholar
Mishra, D.K.
, 
P. Kumar

P. Kumar

Buscar este autor en
Sciendo|Google Scholar
Kumar, P.
 y 
D. Kanjilal

D. Kanjilal

Buscar este autor en
Sciendo|Google Scholar
Kanjilal, D.
  
30 ago 2016
UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films's Cover Image
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Cite
Descargar portada
Publicado en línea: 30 ago 2016
Páginas: 555 - 559
Recibido: 04 nov 2014
Aceptado: 19 may 2015
DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0082
Palabras clave
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Mallick, P.
Mishra, D.K.
Kumar, P.
Kanjilal, D.
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Ciencia de los materiales, Ciencia de los materiales, otros, Nanomateriales, Materiales funcionales e inteligentes, Características y propiedades de los materiales
RSS Feed de revista