Uneingeschränkter Zugang

UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films

P. Mallick

P. Mallick

Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Mallick, P.
, 
D.K. Mishra

D.K. Mishra

Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Mishra, D.K.
, 
P. Kumar

P. Kumar

Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Kumar, P.
 und 
D. Kanjilal

D. Kanjilal

Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Kanjilal, D.
  
30. Aug. 2016
UV-Vis studies of 800 keV Ar ion irradiated NiO thin films's Cover Image
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zitieren
COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht: 30. Aug. 2016
Seitenbereich: 555 - 559
Eingereicht: 04. Nov. 2014
Akzeptiert: 19. Mai 2015
DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0082
Schlüsselwörter
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Mallick, P.
Mishra, D.K.
Kumar, P.
Kanjilal, D.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Materialwissenschaft, Materialwissenschaft, andere, Nanomaterialien, Funktionelle und Intelligente Materialien, Charakterisierung und Eigenschaften von Materialien
Zeitschrift RSS Feed