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Materials Science-Poland
Édition 36 (2018): Edition 4 (December 2018)
Accès libre
Analysis of surface properties of Ti-Cu-Ox gradient thin films using AFM and XPS investigations
Tomasz Kotwica
Tomasz Kotwica
,
Jaroslaw Domaradzki
Jaroslaw Domaradzki
,
Damian Wojcieszak
Damian Wojcieszak
,
Andrzej Sikora
Andrzej Sikora
,
Malgorzata Kot
Malgorzata Kot
et
Dieter Schmeisser
Dieter Schmeisser
| 01 févr. 2019
Materials Science-Poland
Édition 36 (2018): Edition 4 (December 2018)
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Publié en ligne:
01 févr. 2019
Pages:
761 - 768
Reçu:
09 nov. 2018
Accepté:
30 nov. 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2018-0100
Mots clés
surface
,
gradient distribution
,
thin film oxide
© 2018 Tomasz Kotwica et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Tomasz Kotwica
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
Jaroslaw Domaradzki
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
Damian Wojcieszak
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
Andrzej Sikora
Department of Material Science and Diagnostics, Electrotechnical Institute,
Wroclaw, Poland
Malgorzata Kot
Applied Physics-Sensor Technology, Brandenburg, University of Technology Cottbus-Senftenberg
Cottbus, Germany
Dieter Schmeisser
Applied Physics-Sensor Technology, Brandenburg, University of Technology Cottbus-Senftenberg
Cottbus, Germany