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Materials Science-Poland
Volume 36 (2018): Numero 4 (December 2018)
Accesso libero
Analysis of surface properties of Ti-Cu-Ox gradient thin films using AFM and XPS investigations
Tomasz Kotwica
Tomasz Kotwica
,
Jaroslaw Domaradzki
Jaroslaw Domaradzki
,
Damian Wojcieszak
Damian Wojcieszak
,
Andrzej Sikora
Andrzej Sikora
,
Malgorzata Kot
Malgorzata Kot
e
Dieter Schmeisser
Dieter Schmeisser
| 01 feb 2019
Materials Science-Poland
Volume 36 (2018): Numero 4 (December 2018)
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Pubblicato online:
01 feb 2019
Pagine:
761 - 768
Ricevuto:
09 nov 2018
Accettato:
30 nov 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2018-0100
Parole chiave
surface
,
gradient distribution
,
thin film oxide
© 2018 Tomasz Kotwica et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Tomasz Kotwica
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
Jaroslaw Domaradzki
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
Damian Wojcieszak
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
Andrzej Sikora
Department of Material Science and Diagnostics, Electrotechnical Institute,
Wroclaw, Poland
Malgorzata Kot
Applied Physics-Sensor Technology, Brandenburg, University of Technology Cottbus-Senftenberg
Cottbus, Germany
Dieter Schmeisser
Applied Physics-Sensor Technology, Brandenburg, University of Technology Cottbus-Senftenberg
Cottbus, Germany