Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research
18. Feb. 2017
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Artikel-Kategorie: Expert Review
Online veröffentlicht: 18. Feb. 2017
Seitenbereich: 13 - 50
Eingereicht: 23. Nov. 2016
Akzeptiert: 03. Dez. 2016
DOI: https://doi.org/10.1515/jdis-2017-0002
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© 2017 Anthony F.J. van Raan
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van Raan, Anthony F.J.
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands