Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research
18 feb 2017
Acerca de este artículo
Categoría del artículo: Expert Review
Publicado en línea: 18 feb 2017
Páginas: 13 - 50
Recibido: 23 nov 2016
Aceptado: 03 dic 2016
DOI: https://doi.org/10.1515/jdis-2017-0002
Palabras clave
© 2017 Anthony F.J. van Raan
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van Raan, Anthony F.J.
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands