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Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research

  
18 feb 2017

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van Raan, Anthony F.J.
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Informática, Tecnologías de la información, Gestión de proyectos, Bases de datos y minería de datos