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Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research

  
18 feb 2017
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Cita
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van Raan, Anthony F.J.
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Informatica, Tecnologia informatica, Project Management, Base dati e data mining