1. bookTom 8 (2008): Zeszyt 2 (April 2008)
Informacje o czasopiśmie
License
Format
Czasopismo
eISSN
1335-8871
Pierwsze wydanie
07 Mar 2008
Częstotliwość wydawania
6 razy w roku
Języki
Angielski
Otwarty dostęp

Integral Nonlinearity Correction Algorithm Based on Error Table Optimizing and Noise Filtering

Data publikacji: 06 May 2008
Tom & Zeszyt: Tom 8 (2008) - Zeszyt 2 (April 2008)
Zakres stron: 29 - 32
Informacje o czasopiśmie
License
Format
Czasopismo
eISSN
1335-8871
Pierwsze wydanie
07 Mar 2008
Częstotliwość wydawania
6 razy w roku
Języki
Angielski

IEEE Std. 1241-2000 (2001). IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-Digital Converters. E-ISBN: 0-7381-2725-6.Search in Google Scholar

Arpaia, P., Daponte, P., Michaeli, L. (1999). A dynamic error model for integrating analog-to-digital converters. Measurement 25, 255-264.10.1016/S0263-2241(99)00010-XSearch in Google Scholar

Ludin, H. (2003). Post-Correction of Analog-to-Digital Converters. Licentiate thesis, Royal Institute of Technology, Stockholm, TRITA-S3-SB-0324.Search in Google Scholar

Wannamaker, R. A., Lipshitz, S. P., Vanderkooy, J. A. (2000). Theory of non-subtractive dither. IEEE Transactions on Signal Processing 48, 499-516.10.1109/78.823976Search in Google Scholar

Serra, A. C., da Silva, M. F., Ramos, P. M., Martins, R. C., Michaeli, L., Šaliga, J. (2005). Combined spectral and histogram analysis for fast ADC testing. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 54 (4), 1617-1623.10.1109/TIM.2005.851057Search in Google Scholar

Polecane artykuły z Trend MD

Zaplanuj zdalną konferencję ze Sciendo