Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 19 (2019): Zeszyt 4 (August 2019)
Otwarty dostęp
Experimental Measurement of Nanolayers via Electromagnetic, Near Infrared, and Gamma Radiation
Pavel Fiala
Pavel Fiala
,
Karel Bartušek
Karel Bartušek
,
Jarmila Dědková
Jarmila Dědková
,
Radim Kadlec
Radim Kadlec
oraz
Přemysl Dohnal
Přemysl Dohnal
| 24 sie 2019
Measurement Science Review
Tom 19 (2019): Zeszyt 4 (August 2019)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
24 sie 2019
Zakres stron:
144 - 152
Otrzymano:
25 lut 2019
Przyjęty:
30 lip 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2019-0020
Słowa kluczowe
Nanomaterials
,
multilayered material
,
resonance
,
periodic system
,
electromagnetic wave
,
X-ray
,
gamma-ray
,
antireflection
,
shielding
© 2019 Pavel Fiala et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.