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Measurement Science Review
Volume 19 (2019): Numero 4 (August 2019)
Accesso libero
Experimental Measurement of Nanolayers via Electromagnetic, Near Infrared, and Gamma Radiation
Pavel Fiala
Pavel Fiala
,
Karel Bartušek
Karel Bartušek
,
Jarmila Dědková
Jarmila Dědková
,
Radim Kadlec
Radim Kadlec
e
Přemysl Dohnal
Přemysl Dohnal
| 24 ago 2019
Measurement Science Review
Volume 19 (2019): Numero 4 (August 2019)
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Pubblicato online:
24 ago 2019
Pagine:
144 - 152
Ricevuto:
25 feb 2019
Accettato:
30 lug 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2019-0020
Parole chiave
Nanomaterials
,
multilayered material
,
resonance
,
periodic system
,
electromagnetic wave
,
X-ray
,
gamma-ray
,
antireflection
,
shielding
© 2019 Pavel Fiala et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.