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Measurement Science Review
Édition 19 (2019): Edition 4 (August 2019)
Accès libre
Experimental Measurement of Nanolayers via Electromagnetic, Near Infrared, and Gamma Radiation
Pavel Fiala
Pavel Fiala
,
Karel Bartušek
Karel Bartušek
,
Jarmila Dědková
Jarmila Dědková
,
Radim Kadlec
Radim Kadlec
et
Přemysl Dohnal
Přemysl Dohnal
| 24 août 2019
Measurement Science Review
Édition 19 (2019): Edition 4 (August 2019)
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Publié en ligne:
24 août 2019
Pages:
144 - 152
Reçu:
25 févr. 2019
Accepté:
30 juil. 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2019-0020
Mots clés
Nanomaterials
,
multilayered material
,
resonance
,
periodic system
,
electromagnetic wave
,
X-ray
,
gamma-ray
,
antireflection
,
shielding
© 2019 Pavel Fiala et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.