Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 14 (2014): Zeszyt 1 (February 2014)
Otwarty dostęp
Non-destructive Dielectric Measurements and Calibration for Thin Materials Using Waveguide-Coaxial Adaptors
K. Y. You
K. Y. You
,
Z. Abbas
Z. Abbas
,
M. F. A. Malek
M. F. A. Malek
oraz
E. M. Cheng
E. M. Cheng
| 06 mar 2014
Measurement Science Review
Tom 14 (2014): Zeszyt 1 (February 2014)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
06 mar 2014
Zakres stron:
16 - 24
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2014-0003
This content is open access.
K. Y. You
Communication Engineering Department, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi Malaysia, 81310 UTM Skudai, Malaysia
Z. Abbas
Department of Physics, Faculty of Science, Universiti Putra Malaysia, 43400 UPM Serdang, Malaysia
M. F. A. Malek
School of Electrical Systems Engineering, Universiti Malaysia Perlis, Taman Seberang Jaya Fasa 3, Kuala Perlis,Perlis, Malaysia
E. M. Cheng
School of Mechatronic Engineering, University Malaysia Perlis, Ulu Pauh Campus, 02600 Arau, Perlis, Malaysia