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Measurement Science Review
Édition 14 (2014): Edition 1 (February 2014)
Accès libre
Non-destructive Dielectric Measurements and Calibration for Thin Materials Using Waveguide-Coaxial Adaptors
K. Y. You
K. Y. You
,
Z. Abbas
Z. Abbas
,
M. F. A. Malek
M. F. A. Malek
et
E. M. Cheng
E. M. Cheng
| 06 mars 2014
Measurement Science Review
Édition 14 (2014): Edition 1 (February 2014)
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Publié en ligne:
06 mars 2014
Pages:
16 - 24
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2014-0003
This content is open access.
K. Y. You
Communication Engineering Department, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi Malaysia, 81310 UTM Skudai, Malaysia
Z. Abbas
Department of Physics, Faculty of Science, Universiti Putra Malaysia, 43400 UPM Serdang, Malaysia
M. F. A. Malek
School of Electrical Systems Engineering, Universiti Malaysia Perlis, Taman Seberang Jaya Fasa 3, Kuala Perlis,Perlis, Malaysia
E. M. Cheng
School of Mechatronic Engineering, University Malaysia Perlis, Ulu Pauh Campus, 02600 Arau, Perlis, Malaysia