Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Materials Science-Poland
Tom 38 (2020): Zeszyt 2 (June 2020)
Otwarty dostęp
Surface micromorphology characterization of PDI8-CN
2
thin films on H-Si by AFM analysis
Ştefan Ţălu
Ştefan Ţălu
,
Slawomir Kulesza
Slawomir Kulesza
,
Miroslaw Bramowicz
Miroslaw Bramowicz
,
Shahram Solaymani
Shahram Solaymani
,
Mihai Ţălu
Mihai Ţălu
,
Negin Beryani Nezafat
Negin Beryani Nezafat
oraz
Sahar Rezaee
Sahar Rezaee
| 06 paź 2020
Materials Science-Poland
Tom 38 (2020): Zeszyt 2 (June 2020)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
06 paź 2020
Zakres stron:
334 - 340
Otrzymano:
21 sie 2018
Przyjęty:
23 kwi 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2020-0033
Słowa kluczowe
perylene diimide derivatives
,
PDI8-CN thin films
,
fractal analysis
,
surface micromorphology
© 2020 Ştefan Ţălu et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.