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Materials Science-Poland
Édition 38 (2020): Edition 2 (Juin 2020)
Accès libre
Surface micromorphology characterization of PDI8-CN
2
thin films on H-Si by AFM analysis
Ştefan Ţălu
Ştefan Ţălu
Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)
Romania
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Ţălu, Ştefan
,
Slawomir Kulesza
Slawomir Kulesza
University of Warmia and Mazury in Olsztyn, Faculty of Technical Sciences
Olsztyn, Poland
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Kulesza, Slawomir
,
Miroslaw Bramowicz
Miroslaw Bramowicz
University of Warmia and Mazury in Olsztyn, Faculty of Technical Sciences
Olsztyn, Poland
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Bramowicz, Miroslaw
,
Shahram Solaymani
Shahram Solaymani
Department of Physics, Kermanshah Branch, Islamic Azad University
Kermanshah,
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Solaymani, Shahram
,
Mihai Ţălu
Mihai Ţălu
University of Craiova, Faculty of Mechanics, Department of Applied Mechanics and Civil Engineering
Romania
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Ţălu, Mihai
,
Negin Beryani Nezafat
Negin Beryani Nezafat
Department of Physics, Kermanshah Branch, Islamic Azad University
Kermanshah,
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Nezafat, Negin Beryani
et
Sahar Rezaee
Sahar Rezaee
Department of Physics, Kermanshah Branch, Islamic Azad University
Kermanshah,
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Rezaee, Sahar
06 oct. 2020
Materials Science-Poland
Édition 38 (2020): Edition 2 (Juin 2020)
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Publié en ligne:
06 oct. 2020
Pages:
334 - 340
Reçu:
21 août 2018
Accepté:
23 avr. 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2020-0033
Mots clés
perylene diimide derivatives
,
PDI8-CN thin films
,
fractal analysis
,
surface micromorphology
© 2020 Ştefan Ţălu et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
