Skip to content
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Usługi biblioteczne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Journal Matcher
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 64 (2013): Zeszyt 2 (Marzec 2013)
Otwarty dostęp
Measurement Systemwith Hall and a Four Point Probes for Characterization of Semiconductors
Rudolf Kinder
Rudolf Kinder
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Kinder, Rudolf
,
Miroslav Mikolášek
Miroslav Mikolášek
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Mikolášek, Miroslav
,
Daniel Donoval
Daniel Donoval
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Donoval, Daniel
,
Jaroslav Kováč
Jaroslav Kováč
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Kováč, Jaroslav
oraz
Marek Tlaczala
Marek Tlaczala
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Tlaczala, Marek
19 kwi 2013
Journal of Electrical Engineering
Tom 64 (2013): Zeszyt 2 (Marzec 2013)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Pobierz okładkę
Data publikacji:
19 kwi 2013
Zakres stron:
106 - 111
DOI:
https://doi.org/10.2478/jeec-2012-0015
Słowa kluczowe
H.264/AVC
,
OPNET modeller
,
system-in-the-loop
,
video transmission
,
wireless local area network
This content is open access.
