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Journal of Electrical Engineering
Édition 64 (2013): Edition 2 (Mars 2013)
Accès libre
Measurement Systemwith Hall and a Four Point Probes for Characterization of Semiconductors
Rudolf Kinder
Rudolf Kinder
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Kinder, Rudolf
,
Miroslav Mikolášek
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Mikolášek, Miroslav
,
Daniel Donoval
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Donoval, Daniel
,
Jaroslav Kováč
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Kováč, Jaroslav
et
Marek Tlaczala
Marek Tlaczala
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Tlaczala, Marek
19 avr. 2013
Journal of Electrical Engineering
Édition 64 (2013): Edition 2 (Mars 2013)
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Publié en ligne:
19 avr. 2013
Pages:
106 - 111
DOI:
https://doi.org/10.2478/jeec-2012-0015
Mots clés
H.264/AVC
,
OPNET modeller
,
system-in-the-loop
,
video transmission
,
wireless local area network
This content is open access.
