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Journal of Electrical Engineering
Volumen 64 (2013): Edición 2 (Marzo 2013)
Acceso abierto
Measurement Systemwith Hall and a Four Point Probes for Characterization of Semiconductors
Rudolf Kinder
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Marek Tlaczala
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Tlaczala, Marek
19 abr 2013
Journal of Electrical Engineering
Volumen 64 (2013): Edición 2 (Marzo 2013)
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Publicado en línea:
19 abr 2013
Páginas:
106 - 111
DOI:
https://doi.org/10.2478/jeec-2012-0015
Palabras clave
H.264/AVC
,
OPNET modeller
,
system-in-the-loop
,
video transmission
,
wireless local area network
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