Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research
Tom 14 (2024): Zeszyt 2 (March 2024)
Otwarty dostęp
Automatic Analysis and Anomaly Detection System of Transverse Electron Beam Profile Based on Advanced and Interpretable Deep Learning Architectures
Michał Piekarski
Michał Piekarski
,
Joanna Jaworek-Korjakowska
Joanna Jaworek-Korjakowska
oraz
Adriana Wawrzyniak
Adriana Wawrzyniak
| 19 mar 2024
Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research
Tom 14 (2024): Zeszyt 2 (March 2024)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
19 mar 2024
Zakres stron:
139 - 156
Otrzymano:
10 cze 2023
Przyjęty:
13 gru 2023
DOI:
https://doi.org/10.2478/jaiscr-2024-0008
Słowa kluczowe
signal analysis
,
anomaly detection
,
transfer learning
,
convolutional neural networks
,
Synchrotron Radiation System
© 2024 Michał Piekarski et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.