Optimization of Machine Learning-based Value Assessment Model in High Value Patent Cultivation in Universities
03 wrz 2024
O artykule
Data publikacji: 03 wrz 2024
Otrzymano: 22 mar 2024
Przyjęty: 16 lip 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2572
Słowa kluczowe
© 2024 Yihang Wei, published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Wei, Yihang
Shaoxing University Yuanpei CollegeShaoxing, China