Otwarty dostęp

Artificial intelligence methods in diagnostics of analog systems

International Journal of Applied Mathematics and Computer Science's Cover Image
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Signals and Systems (special section, pp. 233-312), Ryszard Makowski and Jan Zarzycki (Eds.)

Zacytuj

Piotr Bilski
Jacek Wojciechowski
Institute of Radioelectronics Warsaw University of Technology, ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warsaw, Poland
eISSN:
2083-8492
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Mathematics, Applied Mathematics