Otwarty dostęp

Structural and optical characterization of annealed As30Te60Ga10 thin films prepared by thermal evaporation technique


Zacytuj

eISSN:
2083-134X
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Materials Sciences, other, Nanomaterials, Functional and Smart Materials, Materials Characterization and Properties