Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Tom 26 (2016): Zeszyt 3 (September 2016)
Otwarty dostęp
Automatic parametric fault detection in complex analog systems based on a method of minimum node selection
Adrian Bilski
Adrian Bilski
oraz
Jacek Wojciechowski
Jacek Wojciechowski
| 29 wrz 2016
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Tom 26 (2016): Zeszyt 3 (September 2016)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
29 wrz 2016
Zakres stron:
655 - 668
Otrzymano:
24 paź 2014
Przyjęty:
09 mar 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/amcs-2016-0045
Słowa kluczowe
complex analog systems
,
support vector machine
,
tabu search
,
genetic algorithm
,
parametric fault detection
© 2016 Adrian Bilski et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Adrian Bilski
Faculty of Applied Informatics and Mathematics, Warsaw University of Life Sciences—SGGW, ul. Nowoursynowska 159, 02-776 Warsaw, Poland
Jacek Wojciechowski
Institute of Radioelectronics, Warsaw University of Technology, ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warsaw, Poland