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Measurement Science Review

Volume 14 (2014): Numero 1 (Febbraio 2014)

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8 Articoli
Accesso libero | 06 mar 2014
Liquid Film Thickness Estimation using Electrical Capacitance Tomography
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Accesso libero | 06 mar 2014
Interferometer -based Technology for Optical Nanoscale Inspection
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Accesso libero | 06 mar 2014
Measuring the Flexural Strength of Ceramics at Elevated Temperatures – An Uncertainty Analysis
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Accesso libero | 06 mar 2014
CMF Signal Processing Method Based on Feedback Corrected ANF and Hilbert Transformation
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Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo