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Measurement Science Review

Volume 9 (2009): Numero 1 (Febbraio 2009)

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Accesso libero | 20 apr 2009
Multi-Wavelength Interferometry for Length Measurements Using Diode Lasers
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Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo