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Pattern Recognition and Algorithm Improvement for Error Analysis in Voltage Transformer Low Voltage Testers

Xu Chen

Xu Chen

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Chen, Xu
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Haomiao Zhang

Haomiao Zhang

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Zhang, Haomiao
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Chao Zhang

Chao Zhang

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Zhang, Chao
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Zhiqiang Cheng

Zhiqiang Cheng

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Cheng, Zhiqiang
, 
Yinzhe Xu

Yinzhe Xu

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Xu, Yinzhe
, 
Yu Yan

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State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Yan, Yu
 e 
Xinrui Zhang

Xinrui Zhang

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Zhang, Xinrui
  
27 nov 2024
Pattern Recognition and Algorithm Improvement for Error Analysis in Voltage Transformer Low Voltage Testers's Cover Image
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Pubblicato online: 27 nov 2024
Ricevuto: 03 lug 2024
Accettato: 22 ott 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-3506
Parole chiave
© 2024 Xu Chen et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
1 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Scienze biologiche, Scienze della vita, altro, Matematica, Matematica applicata, Matematica generale, Fisica, Fisica, altro
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