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Pattern Recognition and Algorithm Improvement for Error Analysis in Voltage Transformer Low Voltage Testers

Xu Chen

Xu Chen

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Chen, Xu
, 
Haomiao Zhang

Haomiao Zhang

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Zhang, Haomiao
, 
Chao Zhang

Chao Zhang

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Zhang, Chao
, 
Zhiqiang Cheng

Zhiqiang Cheng

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Cheng, Zhiqiang
, 
Yinzhe Xu

Yinzhe Xu

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Xu, Yinzhe
, 
Yu Yan

Yu Yan

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Yan, Yu
 et 
Xinrui Zhang

Xinrui Zhang

State Grid Ningxia Marketing Service Center (State Grid Ningxia Metrology Center)Yinchuan, China
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Zhang, Xinrui
  
27 nov. 2024
Pattern Recognition and Algorithm Improvement for Error Analysis in Voltage Transformer Low Voltage Testers's Cover Image
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Publié en ligne: 27 nov. 2024
Reçu: 03 juil. 2024
Accepté: 22 oct. 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-3506
Mots clés
© 2024 Xu Chen et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
1 fois par an
Sujets de la revue:
Sciences de la vie, Sciences de la vie, autres, Mathématiques, Mathématiques appliquées, Mathématiques générales, Physique, Physique, autres
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