Iniciar sesión
Registrarse
Restablecer contraseña
Publicar y Distribuir
Soluciones de Publicación
Soluciones de Distribución
Temas
Arquitectura y diseño
Artes
Ciencias Sociales
Ciencias de la Información y Bibliotecas, Estudios del Libro
Ciencias de la vida
Ciencias de los materiales
Deporte y tiempo libre
Estudios clásicos y del Cercano Oriente antiguo
Estudios culturales
Estudios judíos
Farmacia
Filosofía
Física
Geociencias
Historia
Informática
Ingeniería
Interés general
Ley
Lingüística y semiótica
Literatura
Matemáticas
Medicina
Música
Negocios y Economía
Química
Química industrial
Teología y religión
Publicaciones
Revistas
Libros
Actas
Editoriales
Blog
Contacto
Buscar
EUR
USD
GBP
Español
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrito
Home
Revistas
Materials Science-Poland
Volumen 30 (2012): Edición 4 (December 2012)
Acceso abierto
Properties of aluminium oxide thin films deposited in high effective reactive pulsed magnetron sputtering process
K. Tadaszak
K. Tadaszak
,
K. Nitsch
K. Nitsch
,
T. Piasecki
T. Piasecki
y
W. Posadowski
W. Posadowski
| 14 dic 2012
Materials Science-Poland
Volumen 30 (2012): Edición 4 (December 2012)
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Resumen
Referencias
Autores
Artículos en este número
Vista previa
PDF
Cite
Compartir
Publicado en línea:
14 dic 2012
Páginas:
323 - 328
DOI:
https://doi.org/10.2478/s13536-012-0058-4
Palabras clave
impedance spectroscopy
,
aluminium oxide
,
reactive magnetron sputtering
© 2012 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.