Acceso abierto

I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole

Grzegorz Tytko

Grzegorz Tytko

Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
Buscar este autor en
Sciendo|Google Scholar
Tytko, Grzegorz
 y 
Leszek Dziczkowski

Leszek Dziczkowski

Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
Buscar este autor en
Sciendo|Google Scholar
Dziczkowski, Leszek
  
07 mar 2018
I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole's Cover Image
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Cite
Descargar portada
Publicado en línea: 07 mar 2018
Páginas: 7 - 12
Recibido: 25 oct 2017
Aceptado: 12 feb 2018
DOI: https://doi.org/10.1515/msr-2018-0002
Palabras clave
© 2018 Grzegorz Tytko et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Tytko, Grzegorz
Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
Dziczkowski, Leszek
Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
6 veces al año
Temas de la revista:
Ingeniería, Ingeniería eléctrica, Ingeniería de Control, metrología y ensayos
RSS Feed de revista