Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 62 (2011): Zeszyt 2 (March 2011)
Otwarty dostęp
Measuring Static Parameters of Embedded ADC Core
Franc Novak
Franc Novak
,
Peter Mrak
Peter Mrak
oraz
Anton Biasizzo
Anton Biasizzo
| 07 cze 2011
Journal of Electrical Engineering
Tom 62 (2011): Zeszyt 2 (March 2011)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
07 cze 2011
Zakres stron:
80 - 86
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0013-3
Słowa kluczowe
ADC static parameters
,
histogram based test
,
built-in self-test
,
system-on-chip
This content is open access.
Franc Novak
Jozef Stefan Institute, Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenia
Peter Mrak
Jozef Stefan Institute, Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenia
Anton Biasizzo
Jozef Stefan Institute, Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenia