Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Koszyk
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 10 (2010): Zeszyt 6 (December 2010)
Otwarty dostęp
Frequency Selection of Sine Wave for Dynamic ADC Test
M. Komárek
M. Komárek
oraz
J. Roztočil
J. Roztočil
| 20 sty 2011
Measurement Science Review
Tom 10 (2010): Zeszyt 6 (December 2010)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
20 sty 2011
Zakres stron:
205 - 208
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10048-010-0035-1
Słowa kluczowe
ADC testing
,
sine wave testing
,
frequency selection
,
windowed DFT
,
aliasing
This content is open access.