Otwarty dostęp

Local Detection Of Defects From Image Sequences

,  oraz   
30 gru 2008

Zacytuj
Pobierz okładkę

Rafajłowicz, Ewaryst
Wnuk, Marek
Rafajłowicz, Wojciech
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Matematyka, Matematyka stosowana