Otwarty dostęp

An Experimental Setup for Power Loss Measurement up to 1 kHz using an Epstein Frame at CMI

  
17 lis 2023

Zacytuj
Pobierz okładkę

Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
6 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Inżynieria, Elektrotechnika, Inżynieria sterowania, metrologia i testowanie