Skip to content
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Usługi biblioteczne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Journal Matcher
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 14 (2014): Zeszyt 3 (Czerwiec 2014)
Otwarty dostęp
Dielectric Resonators for the Measurements of the Surface Impedance of Superconducting Films
N. Pompeo
N. Pompeo
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Pompeo, N.
,
K. Torokhtii
K. Torokhtii
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Torokhtii, K.
oraz
E. Silva
E. Silva
Wyszukaj tego autora
Sciendo
|
Google Scholar
Silva, E.
17 cze 2014
Measurement Science Review
Tom 14 (2014): Zeszyt 3 (Czerwiec 2014)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Pobierz okładkę
Data publikacji:
17 cze 2014
Zakres stron:
164 - 170
Otrzymano:
25 lip 2013
Przyjęty:
20 maj 2014
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2014-0022
Słowa kluczowe
Microwave methods
,
dielectric resonators
,
superconductors
,
surface impedance
,
thin films
,
low temperature
© by E. Silva
This article is distributed under the terms of the Creative Commons Attribution Non-Commercial License, which permits unrestricted non-commercial use, distribution, and reproduction in any medium, provided the original work is properly cited.