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Measurement Science Review
Édition 14 (2014): Edition 3 (Juin 2014)
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Dielectric Resonators for the Measurements of the Surface Impedance of Superconducting Films
N. Pompeo
N. Pompeo
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Pompeo, N.
,
K. Torokhtii
K. Torokhtii
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Torokhtii, K.
et
E. Silva
E. Silva
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Silva, E.
17 juin 2014
Measurement Science Review
Édition 14 (2014): Edition 3 (Juin 2014)
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Publié en ligne:
17 juin 2014
Pages:
164 - 170
Reçu:
25 juil. 2013
Accepté:
20 mai 2014
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2014-0022
Mots clés
Microwave methods
,
dielectric resonators
,
superconductors
,
surface impedance
,
thin films
,
low temperature
© by E. Silva
This article is distributed under the terms of the Creative Commons Attribution Non-Commercial License, which permits unrestricted non-commercial use, distribution, and reproduction in any medium, provided the original work is properly cited.
