Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 70 (2019): Zeszyt 3 (June 2019)
Otwarty dostęp
A novel temperature controller for in-situ measurement of radiation-induced changes in temperature effects on space electronics
Jiri Haze
Jiri Haze
oraz
Jiri Hofman
Jiri Hofman
| 18 lip 2019
Journal of Electrical Engineering
Tom 70 (2019): Zeszyt 3 (June 2019)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
18 lip 2019
Zakres stron:
227 - 235
Otrzymano:
02 mar 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2019-0031
Słowa kluczowe
automated test equipment
,
thermoelectric cooler
,
thermometers
,
test software
,
test methods
,
temperature effects
,
RADFET
,
TID
,
PMOS
,
temperature coefficients
,
MTC
© 2019 Jiri Haze et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.