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Journal of Electrical Engineering
Volume 70 (2019): Numero 3 (June 2019)
Accesso libero
A novel temperature controller for in-situ measurement of radiation-induced changes in temperature effects on space electronics
Jiri Haze
Jiri Haze
e
Jiri Hofman
Jiri Hofman
| 18 lug 2019
Journal of Electrical Engineering
Volume 70 (2019): Numero 3 (June 2019)
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Pubblicato online:
18 lug 2019
Pagine:
227 - 235
Ricevuto:
02 mar 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2019-0031
Parole chiave
automated test equipment
,
thermoelectric cooler
,
thermometers
,
test software
,
test methods
,
temperature effects
,
RADFET
,
TID
,
PMOS
,
temperature coefficients
,
MTC
© 2019 Jiri Haze et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.