Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 65 (2014): Zeszyt 5 (September 2014)
Otwarty dostęp
Far Field Measurements of Phc Led Prepared by E–Beam Lithography
Pavol Hronec
Pavol Hronec
,
Jaroslava Škriniarová
Jaroslava Škriniarová
,
Anna Benčurová
Anna Benčurová
,
Pavol Nemec
Pavol Nemec
,
Dušan Pudiš
Dušan Pudiš
oraz
Jaroslav Kováč
Jaroslav Kováč
| 05 lis 2014
Journal of Electrical Engineering
Tom 65 (2014): Zeszyt 5 (September 2014)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
05 lis 2014
Zakres stron:
309 - 312
Otrzymano:
15 lip 2014
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2014-0050
Słowa kluczowe
LED
,
Electron beam direct write lithography
,
photonic crystal
,
far field
,
light extraction
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.